Domaines
TS, SIC
Objectifs
Cette école thématique va donc permettre de former des chercheurs utilisateurs de moyens analytiques utilisant les rayons X, tout en favorisant les échanges entre ces différentes communautés.
Les objectifs scientifiques de l’école s’articulent tous autour de ces différentes techniques de caractérisation Structurale, de leurs intérêts dans les programmes de recherche des utilisateurs potentiels, dans leur mise en œuvre pratique pendant les mesures et dans l’exploitation numérique des données. Ces techniques permettent de sonder les échantillons depuis les niveaux électroniques et atomiques
d’éléments cibles, jusqu’à les imager en 3D avec un champ de vision de plusieurs millimètres et une taille de voxels variant de plusieurs dizaines de microns jusqu’à 16nm. Il est ainsi possible de connaître pour des éléments chimiques d’intérêt leur spéciation et leur localisation ou distribution dans des matrices complexes.
Les domaines scientifiques utilisant ces moyens analytiques sont extrêmement divers. L’imagerie par micro et nano-tomographie RX est une technique de choix pour étudier in-situ et en 3D la microstructure de
matériaux inorganiques (membrane de filtration, batterie Li, composant électronique), organiques (bois,polymères) et d’échantillons naturels (fossiles, météorites, sols). Concernant la spectroscopie d’absorption X (FAME et FAME-UHD) les domaines scientifiques d’application sont également extrêmement larges, même si de fait ils sont plus focalisés sur les sciences de la Terre, de l’environnement, du vivant.
Durée : 5 j
Participants : 20 total (dont 10 CNRS)
Laboratoire et DR : DR11 - OSUG
Contact : EVRARD Olivier olivier.proux@neel.cnrs.fr